Prof. Dr.-Ing. Olaf Christian Hänßler

Professur für Elektrotechnik, Schwerpunkt Nachrichtentechnik

Kurzprofil

Vor seiner deutsch-französischen Promotion auf Forschungsfeldern der Mikrowellentechnik, der Nanoelektronik und Nanotechnologie, war er u.a. in einem Spin-off für mehrere Jahre als Projektingenieur und Hardware- und Softwareentwickler in der Luft- und Raumfahrtindustrie tätig. Zuletzt leitete er ein Forschungslabor für Mikrowellen-Nanoskopie und Nanorobotik an der Universität Oldenburg. Dort forschte und lehrte er als Senior Scientist an Themen zur Mikrowellen-Nahfeldmikroskopie in Verbindung mit Rasterelektronenmikroskopie und Nanorobotik.
Als Ingenieurswissenschaftler ist er Autor zahlreicher Publikationen und Gutachter für internationale Fachzeitschriften und Forschungsorganisationen.

Forschungsgebiete

Nearfield Microwave-Nanoscopy
Microwave Non-Destructive Testing
Multimodal Scanning Electron and Scanning Probe Microscopy

Publikationen und Vorträge

: Haenssler, O.C., Théron, D. & Fatikow, S. (2018). Multimodal imaging technology by integrated scanning electron, force, and microwave microscopy and its application to study microscaled capacitors. Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena; Volume 36, 022901, AVS. DOI:10.1116/1.5006161.
: O.C. Haenssler and S. Fatikow (2015). Manipulating and Characterizing with Nanorobotics: In-situ SEM technique for Centimeter and Millimeter Waves. 40th Int. Conf. on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz). Hong Kong, 23-28 Aug, 2015. DOI: 10.1109/IRMMW-THz.2015.7327755.
: Invited talk: Multimodal Sensing and Imaging Technology by Integrated Scanning Electron, Force, and Nearfield Microwave Microscopy. HFSPM Workshop, National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, CO, USA, 12 December 2019.

Mitgliedschaften

: IEEE Microwave Theory and Techniques Society
IEEE Robotics and Automation Society
IEEE Technical Committee “Micro/Nano Robotics and Automation”
IEEE Nanotechnology Council

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Multimodal imaging technology by integrated scanning electron, force, and microwave microscopy ...

Manipulating and Characterizing with Nanorobotics...

Multimodal Sensing and Imaging Technology by Integrated Scanning Electron, Force, and Nearfield ...

Mitgliedschaften

IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers

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